測(cè)厚儀，顧名思義就是用來(lái)測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器，有接觸式和非接觸式之分。其中，非接觸式測(cè)厚儀中較為常用和受廠***歡迎的是X射線測(cè)厚儀。

X射線測(cè)厚儀是利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度的***種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器，可以在線測(cè)量。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。

在非接觸式測(cè)厚儀中，X射線測(cè)厚儀作為目前應(yīng)用相對(duì)比較廣泛的設(shè)備，由用戶操作終端、冷卻系統(tǒng)、X射線發(fā)射源及接收檢測(cè)頭和主控制柜構(gòu)成主要系統(tǒng)，加上X光高壓射線管、電離室和其他輔助裝置共同組成。其工作原理是某種已知冶金學(xué)性質(zhì)的材料吸收輻射的速率是確定的，***旦知道了吸收系數(shù)，就可以按照X射線發(fā)生器里發(fā)出的射線的衰減函數(shù)來(lái)對(duì)測(cè)量裝置進(jìn)行標(biāo)定，從而得出所需的目標(biāo)厚度值。為了達(dá)到預(yù)定精度，在對(duì)X射線測(cè)厚儀進(jìn)行標(biāo)定時(shí)應(yīng)考慮到冶金學(xué)方面的特點(diǎn)以及所測(cè)的軋件厚度。

X射線測(cè)厚儀是非接觸式測(cè)量裝置，自然存在很多因素會(huì)影響到測(cè)量精度，這些影響因素需要在測(cè)量前進(jìn)行修正，以保證測(cè)量精度：

1、被測(cè)材料溫度的影響

由于X射線測(cè)厚儀是利用射線穿過(guò)被測(cè)材料造成能量衰減來(lái)計(jì)算被測(cè)厚度的，因此在被測(cè)材料溫度很高的情況下，測(cè)厚儀所返回的測(cè)量值要比實(shí)際值小，因此需要對(duì)被測(cè)材料溫度進(jìn)行測(cè)量，通過(guò)溫度值的不同來(lái)補(bǔ)償不同溫度材質(zhì)對(duì)應(yīng)的測(cè)量值。

2、材料密度的影響

對(duì)于不同合金材料的不同，其密度也是不同，因此會(huì)造成射線穿過(guò)能力的不相同，密度越大的材料，測(cè)厚儀所反饋的厚度會(huì)比實(shí)際值大，因此需要針對(duì)不同材料修正測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果。對(duì)于X射線測(cè)厚儀來(lái)說(shuō)，材料的不同對(duì)于測(cè)量結(jié)果的影響是***大的。

3、環(huán)境的影響

工作現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境空氣中存在的灰塵、水滴、粉屑等都會(huì)對(duì)射線造成吸收、反射等影響，因此也會(huì)影響測(cè)量值的精度，這些因素的補(bǔ)償也需要在X射線測(cè)厚儀模型中進(jìn)行修正和補(bǔ)償。

4、其他因素影響

還有其他諸如高壓射線管發(fā)光裝置的潔凈度；射線源與電離室的距離；電離室的類型、射線類型等因素都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響，需要在測(cè)厚儀模型中進(jìn)行校對(duì)和修正。