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QDI 2010
全光譜（紫外-可見-近紅外）顯微分光光度計。

QDI 2010?***先進的紫外可見近紅外顯微分光光度分析系統。
無損測量樣品的透射，反射，熒光和偏振光譜，采樣面積可以小于1微米，適合做樣品的顯微光譜分析。

測試OLED平板顯示器： OLED平板顯示器代表了***新顯示技術。QDI系列顯微分光光度計可用于開發，分析和質量控制RGB和寬帶電致發光磷光體，RGB和寬帶電致發光磷光體用于制造下***代新型平板顯示器。

QDI 2010 TM 堪稱紫外可見近紅外顯微分光光度計的新標準。
QDI 2010TM 能夠對顯微樣品***次掃描完成從深紫外光到近紅外光譜的采集。能夠分析各種樣品，從紡織品纖維到200毫米的半導體硅晶片，從納米材料到光子晶體，無論是實驗室還是工廠，QDI 2010 TM 都是理想的分析儀器。

QDI 2010?的預校正光譜儀配備科研***陣列探測器（CCD或PDA）。
每個陣列探測器都可選配半導體冷卻器制冷以達到***低的噪聲和長期穩定性，確保儀器獲得***佳信噪比。采用科研***紫外-可見光-近紅外顯微鏡，高分辨率彩色數字成像系統，紫外屏蔽目鏡，計算機服務器預裝WINDOWS XP 操作系統，綜合性的儀器控制／光譜分析軟件包。
QDI 2010? 操作簡單，耐用，為使用者提供***優質的測試分析結果。