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性能特點
1、 工業(yè)***攝像頭高速采集，光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，專用軟件進行顆粒數(shù)據(jù)處理。
2、 測量范圍：0.5μm～3000μm
3、 全平場消色差物鏡，***大分辨率0.07微米，***大光學放大倍數(shù)1600倍，打印***大倍數(shù)4000倍(A4幅面)
4、 提供等面積和等周長兩種基準下的個數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
5、 對采集的圖像進行調(diào)整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網(wǎng)格標注顆粒尺寸等功能，使測試結(jié)果更真實可靠。
6、 儀器分二種型號，技術原理、參數(shù)都相同，JX-2000A圖形顆粒分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B圖形顆粒分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
7、 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的粒度報告。

1、測量范圍：0.5μm～3000μm
2、全平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學放大倍數(shù)1600倍，打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)
3、提供等面積和等周長兩種基準下的個數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。

JX-2000圖形顆粒分析儀，能準確直觀顆粒形貌，并進行顆粒數(shù)據(jù)處理，可以得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等數(shù)據(jù)，適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學顯微鏡、USB攝像機、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成

***、應用范圍
適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。