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1.電滯回線測試頻率***高可達(dá)1MHz
2.疲勞測試頻率***高可達(dá)20MHz
3.鐵電材料漏電流的測試***大值可達(dá)100mA
4.測試頻率低至1mHz
5.測量樣品的尺寸可小至200x200nm
6.脈沖測試
7.漏電流測試
8.損耗測試
9.阻抗分析
10.壓電系數(shù)測試
12.熱釋電性能測試等
主要特點(diǎn) 1.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性
2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)
3.鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性
4.在操作條件下記錄單元對(duì)電容測試芯片直接存取的仿真
5.測量小信號(hào)材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)
6.可與原子力顯微鏡聯(lián)用，對(duì)微區(qū)或Nanoscale的鐵電、壓電性能進(jìn)行測試 儀器介紹 德***aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀是世界上***先進(jìn)的電子材料電特性參數(shù)測量儀器。該儀器為完全模塊化設(shè)計(jì)，不同的模塊對(duì)應(yīng)不同的電特性測量方式，如：DRAM模塊可研究超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性; RELAXATION模塊可測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng); FERROELECTRIC HYSTERESIS模塊測試鐵電材料的電滯回線(動(dòng)態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性; PULSE SWITCHING模塊提供在操作條件下記錄單元對(duì)電容測試芯片直接存取的仿真。