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日立 FT9200系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀

儀器簡介：

是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。是***個本公司膜厚儀FT系列的標準機型。有適用線路板用的FT9250、有適用大型線路板用的FT9255、可以對應(yīng)廣泛的應(yīng)用程序。

技術(shù)參數(shù)：

可測量元素：原子序數(shù)22(Ti)～92(U) 
X射線源：小型空氣冷卻型X射線管球 管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗 
濾波器：***次濾波器：Al-自動切換 二次濾波器：Co-自動切換 
檢測器：比例計數(shù)管 
準直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圓形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能：裝有樣品門聯(lián)鎖、防沖撞的功能

樣品圖像對焦方式：激光自動對焦

樣品觀察：CCD固定倍率、鹵素燈照明 選購項：倍率切換（***大130倍）
修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正 
測量報告書制作：配備MS-EXCEL MS-WORD(使用宏支持自動制作測量報告書)測量能譜與樣品圖像保存功能

主要特點：

1. 能夠測量無鉛焊錫 
配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份

2. 搭載中心搜索軟件 
通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。

3. 擁有防沖功能

4. 搭載激光對焦系統(tǒng)

5. 即時生成測量報告的便捷性 
運用搭載的Microsoft Word Excel 可以簡單輕松得到制作報告。

6. 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件

7. 搭載了薄膜FP法軟件

8. 自動對焦功能
配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。

應(yīng)用