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美國(guó)AEP Technology
美國(guó)AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備, MEMS生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備, 光學(xué)生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備的生產(chǎn)制造，是表面測(cè)量解決方案行業(yè)的領(lǐng)先供應(yīng)者,專(zhuān)門(mén)致力于材料表面形貌測(cè)量與檢測(cè)。該公司生產(chǎn)的NanoMap500WLS非接觸三維表面形貌儀，基于白光干涉測(cè)量法，是目前功能極強(qiáng)的全新表面三維輪廓儀，具有很高的精密度和準(zhǔn)確度，既用來(lái)獲得樣品表面垂直分辨率高達(dá)0.1nm的三維形態(tài)和形貌，又可以定量地測(cè)量表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，諸如晶粒、膜厚、孔洞深度、長(zhǎng)寬、線粗糙度、面粗糙度等，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積等參數(shù)。所有測(cè)量都是非破壞性和快速的，樣件無(wú)須專(zhuān)門(mén)處理，在高速掃描狀態(tài)下測(cè)量輪廓范圍可以從1nm 到10mm。由于采用獨(dú)特的縫合技術(shù)，無(wú)論怎樣的表面形態(tài)、粗糙程度以及樣品尺寸，一組m×n圖像可以被縫合放大任何倍率，在高分辨率下創(chuàng)造一個(gè)大的視場(chǎng)，并獲得所有的被測(cè)參數(shù)。NanoMap500WLS非接觸三維表面形貌儀的應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了薄膜/涂層、工業(yè)軋鋼和鋁、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質(zhì)和半導(dǎo)體等幾乎所有的材料領(lǐng)域。 
 
AEP is the world leader in surface metrology and technology innovation. From its inception it has developed cutting edge instruments to aid researchers and users. As the pioneers of innovation in hi tech engineering, it has grown steadily in worldwide markets. Currently it has offices in America, Asia and Europe.